X 射线衍射仪的样品制备要求

       X 射线衍射仪可以分析研究金属固溶体、合金相结构、氧化物相合成、材料结晶状态等，既可以定性分析，又可以定量分析。

       X 射线衍射仪的样品制备要求

       1、对于片状、圆拄状样品会存在严重的择优取向，衍射强度异常。因此要求测试时合理选择响应的方向平面。磨成一个平面，面积不小于10X10mm，如果面积太小可以用几块粘贴一起。

       2、对于测量金属样品的微观应力，测量残余奥氏体，要求样品不能简单粗磨，要求制备成金相样品，并进行普通拋光或电解拋光，消除表面应变层。

       3、粉末样品要求在3克左右，如果太少也需5毫克。要求磨成320目的粒度，约40微米。

       4、含有挥发性物质的样品，在样品进入真空系统前需要通过对样品加热或用溶剂清洗等方法清除掉挥发性物质。

       5、对于具有弱磁性的样品，可以通过消磁的方法去掉样品的微弱磁性，然后就可以正常分析。

       6、对于薄膜样品，要求样品具备比较大的面积，其厚度应大于20nm,且薄膜比较平整以及表面粗糙度要小。